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| 구분 | CT (Computed Tomography) | CL (Computed Laminography) |
|---|---|---|
| 이미징 방식 | 360° 회전 스캐닝 (객체 회전 또는 X-ray 소스-검출기 회전) | 제한된 각도 스캐닝 (객체 고정, 소스-검출기 상대 이동) |
| 광학 구성 | 단일 회전축 중심의 완전한 투영 데이터 수집 | 평면 이동 또는 틸트(tilt) 기반 부분 투영 데이터 수집 |
| 최적화 대상 | 소형 3D 복합 구조물 (BGA, 마이크로비아) | 대형/평판형 객체 (PCB, 배터리 셀, 항공기 날개) |
| 데이터 재구성 알고리즘 | FDK (Feldkamp-Davis-Kress) 알고리즘 | Fourier 슬라이스 정리 또는 반복적 재구성 (MBIR) |
| 구성 요소 | CT 시스템 | CL 시스템 |
|---|---|---|
| 엑스레이 소스 | 마이크로/나노포커스 튜브 | 마이크로포커스 튜브 |
| 검출기 | 고속 평판 검출기 (FPD) 또는 CCD 기반 센서 | 대형 평판 검출기 (FPD) |
| 스테이지 | 초정밀 회전 스테이지 (0.001° 분해능) | 선형 이동+틸트 스테이지 |
| 소프트웨어 | 3D 볼륨 재구성+결함 자동 분류 (AI) | 2.5D 레이어별 이미징+스탭 측정 알고리즘 |
